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檢驗(yàn)千分尺的方法
一、測量面的平行度及平面度采用光學(xué)平晶進(jìn)行檢驗(yàn):光學(xué)平面與絲桿測量面或測砧測量面貼合度
后，由于測量面的不平度，防水?dāng)?shù)顯千分尺哪有賣的，使平晶與測量面之間存在空隙，從而產(chǎn)生干涉帶或干涉環(huán)，在測
量面的垂直方向每條干涉帶或干涉環(huán)所代表的平面度誤差為0.3μm.
二、測量面的平行度誤差：測量范圍上限至100mm的千分尺兩側(cè)量面的平行度采用絲桿螺距的1/3
或1/4的光學(xué)平行平晶來進(jìn)行檢驗(yàn)，依次將光學(xué)平行平晶防入兩測量面間轉(zhuǎn)動(dòng)測力裝置。施加
5-10N的力，防水?dāng)?shù)顯千分尺多少錢，使兩測量面出現(xiàn)的干涉環(huán)或干涉帶數(shù)目減少至少.測量范圍大于100mm的千分尺，中山防水?dāng)?shù)顯千分尺，
測量面的平行度可用自準(zhǔn)直儀進(jìn)行檢驗(yàn).在距測量邊緣0.4mm范圍內(nèi)的平行度忽略不計(jì)，
三、測量面的平面度誤差：
采用二級光學(xué)平晶檢驗(yàn)，應(yīng)調(diào)整光學(xué)平晶使測量面上干涉帶或干涉環(huán)。測量面不應(yīng)出現(xiàn)兩條以
上的相同顏色的干涉環(huán)或干涉帶（測量量面的平面度，〈0.6μm）在距測量面邊緣0.4mm范圍內(nèi)
的平面度忽略不計(jì)。